將同步輻射裝置“搬進"實驗室 

超高光通量X射線吸收精細結構譜儀優勢 

數據可靠：數據與同步輻射高度一致 

能量范圍：4.5-15keV,可擴展至20keV 

測試元素：實現3d,5d,稀土元素過渡金屬測試 

自主可控：90%部件自主可控，無政策風險

 高產出：在一年時間內幫助客戶發表高檔次論文一百二十多篇 

高性能：1小時內完成1%含量樣品測試 

高光通量：>2,000,000 photons/sec@8keV 

簡單易用：只需半天培訓即可上機操作 

低維護成本：無需專人維護、操作、管理等 

超高光通量X射線吸收精細結構譜儀原理 

X射線吸收精細結構(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)也叫X射線吸收譜(X-ray Absorption Spectroscopy,XAS),是一種基于同步輻射光源、研究材料局域原子或電子結構的一種有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱們領域。 

RapidXAFS采用獨特的Johann型羅蘭圓單色器設計，無需同步輻射光源，從點光源發射的X射線滿足Bragg方程并發生衍射重新匯聚于羅蘭圓的探測器處，通過改變Bragg角度獲得不同能量的單色光，從而實現在常規實驗室中進行高質量的XAFS測試。 

XAFS譜： 

X射線吸收近邊結構(XANES) 

擴展X射線吸收精細結構(EXAFS) 

EXAFS 

能量范圍大概在吸收邊后50eV到1000eV,來源于X射線激發出來的內層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。 

XANES 

吸收邊前約10eV至吸收邊后約50eV的范圍，其主要來源于X射線激發出的內殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。