Name: 紅外光譜橢偏儀SENDIRA
Brand: 其他品牌
Availability: InStock

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薄膜測量儀器

光譜橢偏儀

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紅外光譜橢偏儀測量系統設計與性能了解一下掃描電鏡的優點及原理吧原子層沉積和磁控濺射的區別徠卡生物顯微鏡的操作流程及技術原理談談刻蝕系統多模塊協同的完整刻蝕流程原理偏光顯微鏡組成部分

詳細介紹

品牌	其他品牌	產地類別	國產
應用領域	環保,化工,電子/電池

橢偏振動光譜

紅外光譜橢偏儀SENDIRA利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

傅立葉紅外光譜儀FTIR適用

集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。

紅外光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內是不透明的，現在也可以進行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團和分子鏈的走向。

SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應用(FTIR)設計的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學部件，計算機控制角度計，水平樣品臺，自動準直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400?cm-1 ～6,000?cm-1 (1.7?µm?–?25?µm)光譜范圍內提供了的精度和分辨率。

光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應用范圍從介質膜、TCO、半導體膜到有機膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。